那個冰箱的比喻不恰當, 難道數據也會腐爛不成

LZ有些地方是胡謅,二氧化矽(SiO2)的漏電是指單個晶體管柵極的漏電, 與係統架構的優秀設計根本無關.
還有很多第三方的測試是很客觀的, 他們並沒有從INTEL或AMD拿錢.

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